| 관리번호 | 03타06-07E6C002 |
|---|---|
| 모델명 | MiniSIMS ToF |
| 제조사 | Millbrook |
| 도입 일자 | 2008-04-14 |
| 취득금액 | 493,430,000 원 |
| 설치부서 | FITI 시험연구원 표준기반팀 |
| 용도 | 시험 |
| 관련규격 | - |
| 주요사양 | *SIMS(Secondary Ion Mass Spectrometry : 이차이온질량 분석법) 1~20 KeV의 운동 에너지를 가진 일차이온빔을 고체시료 표면에 충돌시켜 고체 표면이나 내부의 원자들을 이온화 상태로 Sputtering한 후 생성된 이차이온을 analyzer에 통과시켜 에너지와 질량에 따라 분리하여 검출하는 분석법. 일차이온으로 표면을 때리는 동안 방출하는 양이온 혹은 음이온을 분석하는데 이와같은 SIMS를 이용하여 화학적 성분과 표면구조 분석이 가능. TOF-SIMS는 고분자 기술에서 발생하는 중요한 문제를 풀기위한 배경을 제공하며 거대 분자들의 이온 스퍼터링에 대한 기초연구에 중점을 둠. 고분자의 TOF-SIMS 스펙트럼은 고분자 형태 작용기 반복단위 말단기 그리고 가지친 사슬의 데이터를 얻어 고분자를 확인할 수 있고 oligomer 분포와 평균 분자량을 얻을수 있으며 고분자 표면의 불순물등 여러 가지 형태의 중요한 정보를 제공. |
