제목 | TOF-SIMS (이차이온질량분석기)를 활용한 표면분석서비스 실시 | ||
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작성자 | 관리자 | ||
등록일 | 2009-02-02 오후 5:54:24 | 조회수 | 25229 |
저희 FITI 시험연구원을 찾아 주시는 고객 여러분 안녕하십니까? 저희 연구원은 재료 표면의 특성을 분석할수 있는 초정밀 표면분석장비를 국내 최초로 도입하였습니다. 제품의 중요 특성을 결정하는 표면에서 발생될 수 있는 오염, 황변, 부식, 품질불량 등의 문제점을 보다 정밀하게 분석하여 근원적인 해결책을 제공할 수 있게 되었습니다. 표면분석 장비들, 폭넓은 분석기술, 경험있는 분석자들, 많은 SIMS 표준물질 라이브러리와 함께, FITI는 고객들의 관심 대상인 재료들의 분석과 문제 해결을 돕는 데 주력하고 있습니다. FITI의 폭넓은 분석기술과 서비스, 소비자 중심의 상담서비스, 기술기반은 여러분이 새로운 프로세스와 물질들을 더욱 빠르게 개발하고, 이러한 프로세스를 생산으로 연결하고, 합격 불합격의 문제점을 해결할 수 있도록 돕고 있습니다. |
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첨부파일 | /DATA/BBS1/SIMS_안내문.jpg |